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SKYLARK 349 Laser Monofréquence UV CW DPSS 349 nm

SKYLARK 349 Laser Monofréquence UV CW DPSS 349 nm

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SKYLARK 349 Laser Monofréquence UV CW DPSS 349 nm

Le système laser monofréquence DPSS Skylark 349 nm pompé par diode offre le plus haut niveau de puissance ultraviolette disponible sur une plateforme DPSS.

Longueur d'onde	349 nm
Divergence du faisceau	1,0 mrad, limite de diffraction
Stabilité de pointage	≤5 µrad/°C
Structure des modes longitudinaux	Monomode longitudinal (SLM)
Bande spectrale	≤ 500 kHz
Stabilité spectrale	±0,2 pm (sur 8 heures)
Longueur de cohérence	>100 m
Polarisation	Verticale; ≥100:1
Stabilité de la puissance de sortie	≤2,0%, (sur 8 heures)
Bruit de puissance de sortie	≤0.3% RMS (10Hz – 10MHz)
Plage de température ambiante	18 – 30 °C
Températures de stockage	0 to 50 °C
Humidité	5 -95%, sans condensation
Tension de fonctionnement, V c.a.	90 to 240
Fréquence, Hz.	50-60
Consommation d'énergie	<50W (typique)

Description

Détails

Le laser DPSS CW Skylark 349 fournit une lumière UV monofréquence ultra-stable à 349 nm.
Spécialement conçu pour garantir des performances stables et constantes à long terme, il délivre jusqu’à 400 mW de puissance de sortie ultra-stable, avec un faible niveau de bruit et une excellente pureté spectrale.
Optimisé pour l’inspection des défauts des semi-conducteurs et l’analyse des matériaux, le Skylark 349 offre une largeur de raie spectrale étroite ainsi qu’une qualité de mode spatial UV exceptionnelle pour les essais de photoluminescence.

Des documents

Skylark 349 DPSS Laser - Datasheet Size: (108.54 KB)

Fonctionnalités

Puissance de sortie de 50 à 400 mW à 349 nm SLM
Fonctionnement CW à mode longitudinal unique (SLM) asservi par rétroaction
Performance à très faible bruit, < 0,3 % RMS
Excellente qualité de faisceau sous un encombrement compact
Consommation d'énergie la plus basse pour une puissance de sortie donnée
Connectivité de contrôle via Ethernet (TCP/IP) + E/S numériques
Interface graphique de contrôle (GUI) accessible sur le Web
Diagnostics à distance

Applications

Spectroscopie Raman UV
Photoluminescence (PL)
Lithographie par interférence laser
Fabrication de réseaux de diffraction optiques
Métrologie et inspection des semi-conducteurs
Détection des défauts de wafers
Matériaux à large bande interdite
Caractérisation des matériaux 2D
Cytométrie en flux UV

Name	Puissance de sortie, mW	Output Beam Diameter, TEM00, mm	Hauteur du faisceau, mm	Qualité du faisceau	Tête laser (L x l x H)	Prix	Quantité
SL 349-0050	50	1.0 - 1.5	90	M² ≤1.1	425 x 200 x 123 mm	Request a quote	✉
SL 349-0100	100	1.0 - 1.5	90	M² ≤1.1	425 x 200 x 123 mm	Request a quote	✉
SL 349-0200	200	1.0 - 1.5	90	M² ≤1.1	425 x 200 x 123 mm	Request a quote	✉
SL 349-0300	300	1.0 - 1.5	90	M² ≤1.1	425 x 200 x 123 mm	Request a quote	✉
SL 349-0400	400	1.0 - 1.5	90	M² ≤1.1	425 x 200 x 123 mm	Request a quote	✉